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X射線近邊吸收譜儀

產(chǎn)品簡介

X射線近邊吸收譜作為X射線吸收光譜的核心組成部分，是研究材料局域電子結構、化學態(tài)及配位環(huán)境的強有力工具，為理解構效關系、優(yōu)化材料設計提供直接依據(jù)。

更新時間：2025-05-27

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品牌	創(chuàng)譜specreation	應用領域	環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源
能量范圍	4.5-20keV	能量分辨率	0.5-1.5eV(7-9keV,近邊)
X射線光源	1.2-1.6kW閉管	光通量	1,000,000-2,000,000photons/sec/eV@9keV
單色器晶體	直徑100mm,球面半徑500mm(Si/Ge))	探測器	SDD探測器
自動樣品輪	16工位

　　一、工作原理

　　X射線近邊吸收譜儀利用光子的能量與物質內(nèi)部電子能級的差異，通過測量X射線在物質中被吸收的能量來分析物質的電子結構。在X射線近邊吸收光譜中，每種元素的吸收譜線都具有不同性，這使得我們能夠通過這種技術來準確鑒定物質中元素的種類和數(shù)量。此外，該技術還能用于研究物質的物理和化學性質，如電子結構的變化、化學鍵的形成和斷裂等。

　　二、工作特點

　　小型化桌面式系統(tǒng)，易于使用：

　　1.支持近邊快掃功能；

　　2.支持原位測試等擴展功能；

　　3.人體工學高度設計，操作更便捷；

　　4.內(nèi)置實驗參數(shù)預置，實現(xiàn)快速測量；

　　5.不同樣品、不同測量模式一鍵自動切換；

　　6.遠程數(shù)據(jù)傳輸，實時顯示實驗進程和結果支持無人值守測試；

　　7.專業(yè)的應用技術支持和數(shù)據(jù)分析支持；

　　8.儀器具有輻射豁免資質和多重安全防護聯(lián)鎖，保證人身和使用安全。

　　XAFS專用彎晶：

　　1.不同晶面配置齊全，實現(xiàn)各個元素覆蓋；

　　2.預準直安裝，即插即用；

　　3.可根據(jù)需要元素定制特殊彎晶，達到最佳性能。

　　三、應用領域

　　1.材料科學：可用于研究材料的晶體結構、電子結構、元素分布等，為材料的設計和優(yōu)化提供重要依據(jù)。

　　2.能源與環(huán)境：可用于研究新能源材料的電子結構、化學反應機理等，為新能源的開發(fā)和利用提供有力支持。

　　3.生物學：可用于研究生物大分子的空間構象、功能基團以及相互作用等，為生物醫(yī)藥研究提供有力支持。

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